Optika Inspektado, AOI, & Testa Ekipaĵo
Hejmo » Produktoj » Semikonduktaĵa Ekipaĵo » Cifereca Grafika Detekta Sistemo

ŝarĝo

Kunhavigu al:
butonon de kundivido de fejsbuko
butono kundividado de tvitero
butono de kundivido de linio
butono kundividado de wechat
linkedin kundivida butono
Pinterest kundivida butono
butonon de kundivido de whatsapp
kakao kundivida butono
butonon pri dividado de Snapchat
butonon de kundivido de telegramoj
kundividu ĉi tiun kundividan butonon

Cifereca Grafika Detekta Sistemo

La Bilda Analiza Vida Inspekta Ekipaĵo ebligas aŭtomatigitan rapidan difektan mezuradon kaj padronan komparan analizon, signife plibonigante produktado-efikecon kaj reduktante laborkostojn kompare al tradiciaj manaj inspektadmetodoj. Ĝi certigas, ke produktoj plenumas altkvalitajn normojn, evitante materialan malŝparon kaŭzitan de la uzo de subnormaj materialoj.
 
 
Havebleco:
Kvanto:
  • SMI-M5

  • PTC


◇◇ Trajtoj  ◇◇


  • Ampleksaj detektaj kapabloj: Subtenas plurajn detektajn erojn, inkluzive de trua areo, dimensioj, eksterlandaj objektoj kaj aliaj, renkontante diversajn klientajn bezonojn.

  • Subtenas PCB-industriajn komunajn datumformatojn: Gerber & ODB++, ebligante eksterreta desegna importo por analizi elektronikajn komponentojn. Komponento-specifaj inspektadkriterioj povas esti agorditaj.

  • Germanaj Basler altrapidaj, alt-rezoluciaj industriaj fotiloj: Provizite per altbrilaj lumfontoj, la ekipaĵo atingas altrapidan flugan pafadon. Kunligita kun unika multfadena sinkrona pretiga algoritmo, ĝi ebligas pli efikan bildan analizon kaj detekton.

  • Altprecizecaj movaj unuoj : Singapura Akribis altprecizecaj magnetaj levitaciaj linearaj motoroj, UK Renishaw-ultraprecizecaj kradaj skaloj kaj Taiwan Hiwin-alta precizeca lineara gvidilo;

  •  Forta adaptebleco: Kapabla inspekti ŝablonojn kun diversaj specifoj, dum fleksebla recepta sistemo taŭgas por malsamaj industriaj aplikaj scenaroj.

  • La spurebla detekta datumsistemo faciligas inversan spuradon de procezdifektoj kaj kontrolon de procesnormoj.

  •  Uzant-amika interfaco: La intuicia operacia metodo kaj optimumigita programara algoritmo-dezajno faras ĉi tiun detektan sistemon pli oportuna por funkciigistoj uzi la ekipaĵon.



◇◇  Teknikaj Specifoj  ◇◇


Detekta unuo

Scenaro de aplikaĵo

SMT-ŝtalo-ŝablono alvenanta inspektado aŭ inspektado post purigado

Detektaj eroj

Trua areo, pozicio, ofseto, grandeco, fremda objekto, bavo, blokita truo, mankanta truo, streĉiĝo, ekspansio kaj kuntiriĝo

Mezurado de streĉiĝo:

Programebla cifereca tensiomezurilo kun alta precizeco, mezurintervalo 5-60 N/cm.

Kadra grandeco

200*200*15~736*736*40 (mm)

Maksimuma detekta areo grandeco

620*620 (mm)

Detekta rapido

0.7S per FOV.

Min mezurebla ununura trua diametro

20μm

Maksimuma mezurebla ununura trua diametro

9 mm

Minmezurebla trua interspaco

100μm

Sistema precizeco

Pozicia mezurado precizeco

3.45μm (unu pikselo)

Detekta ripeta precizeco

Gage R&R<3%

Mova pozicio precizeco

Pozicia precizeco: ± 3μm, ripetiĝanta pozicioprecizeco: ± 3μm

Optika sistemo

Fotilo

Basler 12 milionoj da pikseloj

Lenso

Duobla telecentra lenso

Pixel-precizeco

3.45μm

FOV grandeco

14.13mm * 10.35mm (laŭvola)

Supra Lumilo

Koaksa lumo

Malsupra Lumilo

Altfrekvenca strobolumo

S oftaj funkcioj

Reĝimo de prova ekipaĵo

Senreta testado

Metodo de programado de modelnombro

Senreta programado

Ĉefa algoritmo

Eltiru MARK-korekton por kalkuli koordinatan pozicion. Algoritmo de vektorbildoj estas uzata por kalkuli la geometrian pozicion kaj grandecan devion inter malfermo kaj fakta Gerber

Kamformato

RS-274X, ODB++

Administrado de permesoj de uzantoj

Subtenas hierarkian alirkontrolon

MES

Subtenu personecigitan disvolviĝon

Ŝtalo stencil strekkodo administra funkcio

Laŭvola, rezerva programaro-interfaco

Grafika kompara funkcio

Subteno

Sistemo pri informa administrado

Sistemo de receptoj

Historia rekordo

La testprocezo kaj rezultdatenoj estas registritaj en dosieroj, kaj la testrezultoj povas esti rigardataj eksterrete

Testmetodo

Subtenas multoblajn detektajn reĝimojn kaj agordeblajn testnivelojn, ebligante grup-specifan kaj nivel-specifan testan difinon por malsamaj komponentoj

SPC-datumaj statistikoj

Histogramo, Xbar-R Diagramo, Cp&Cpk, Ĉiutaga/Semajna/Monata Raporto

de ekipaĵo Ĝeneralaj specifoj

Gantry strukturo

Duobla veturado marmoro

Dinamika sistemo

Akribls magneta levitacia linia motoro

Komputila sistemo

Vindozo 10 22H2 Pro

Industria komputila marko

Advantech

Totala grandeco

1450mm * 1350mm * 1650mm

(tri-kolora malpeza alteco ne estas inkluzivita)

Pezo

Ĉirkaŭ 1200 KG


◇◇  Aplika areo  ◇◇

06-Cifereca grafika detekta sistemo




BGA Bumping Process, SMT Precision Stencil, Wafer-Level Bumping Stencil, Quartz Photomask, Micro-elektroforming stencil.

Antaŭa: 
Sekva: 

Kontaktinformoj

Telefono: +86-512-5792-3620  
 Retpoŝto: info@ptcstress.com
 Adreso: No.581, Hengchangjing Road, Zhoushi Town, Kunshan City, Jiangsu Province, 215337, Ĉinio

Sekvu Nin

Ĉu vi havas demandojn? Kontaktu nin por helpo.

Rapidaj Ligiloj

Kopirajto © 2026 Suzhou PTC Optical Instrument Co., Ltd. Ĉiuj Rajtoj Rezervitaj.   苏ICP备19051399号-2