Օպտիկական զննում, AOI և փորձարկման սարքավորումներ
Տուն » Ապրանքներ » Կիսահաղորդչային սարքավորումներ » Թվային գրաֆիկական հայտնաբերման համակարգ

բեռնում

Կիսվել՝
Ֆեյսբուքի փոխանակման կոճակ
Twitter-ի համօգտագործման կոճակը
տողերի փոխանակման կոճակ
wechat-ի փոխանակման կոճակը
linkedin-ի համօգտագործման կոճակը
pinterest-ի համօգտագործման կոճակը
whatsapp-ի համօգտագործման կոճակը
kakao համօգտագործման կոճակ
snapchat-ի համօգտագործման կոճակ
հեռագրի փոխանակման կոճակ
կիսել այս համօգտագործման կոճակը

Գրաֆիկական թվային հայտնաբերման համակարգ

Պատկերի վերլուծության վիզուալ ստուգման սարքավորումը հնարավորություն է տալիս ավտոմատացված արագ թերության չափում և օրինաչափությունների համեմատական ​​վերլուծություն՝ զգալիորեն բարձրացնելով արտադրության արդյունավետությունը և նվազեցնելով աշխատուժի ծախսերը՝ համեմատած ավանդական ձեռքով ստուգման մեթոդների հետ: Այն ապահովում է, որ արտադրանքը համապատասխանում է բարձր որակի չափանիշներին, խուսափելով անորակ նյութերի օգտագործման հետևանքով առաջացած նյութերի վատնումից:
 
 
Հասանելիություն:
Քանակ:
  • SMI-M5

  • PTC


◇◇ Առանձնահատկություններ  ◇◇


  • Համապարփակ հայտնաբերման հնարավորություններ. Աջակցում է մի քանի հայտնաբերման տարրեր, ներառյալ անցքերի տարածքը, չափերը, օտար օբյեկտների հայտնաբերումը և այլն, բավարարելով հաճախորդների տարբեր կարիքները:

  • Աջակցում է PCB արդյունաբերության ընդհանուր տվյալների ձևաչափերին՝ Gerber & ODB++՝ հնարավորություն տալով անցանց գծագրերի ներմուծում էլեկտրոնային բաղադրիչի տարրերը վերլուծելու համար: Բաղադրիչի հատուկ ստուգման չափանիշները կարող են կազմաձևվել:

  • Գերմանական Basler բարձր արագությամբ, բարձր լուծաչափով արդյունաբերական տեսախցիկներ. հագեցած բարձր պայծառ լույսի աղբյուրներով, սարքավորումն ապահովում է բարձր արագությամբ թռչող կրակոցներ: Զուգակցված եզակի բազմաթելային համաժամանակյա մշակման ալգորիթմի հետ, այն հնարավորություն է տալիս ավելի արդյունավետ պատկերների վերլուծություն և հայտնաբերում:

  • Բարձր ճշգրտության շարժվող միավորներ. Սինգապուրի Akribis բարձր ճշգրտության մագնիսական լևիտացիայի գծային շարժիչներ, Մեծ Բրիտանիայի Renishaw գերճշգրիտ վանդակաճաղերի կշեռքներ և Taiwan Hiwin բարձր ճշգրտության գծային ուղեցույց;

  •  Ուժեղ հարմարվողականություն. Տարբեր բնութագրերով տրաֆարետները ստուգելու ունակություն, մինչդեռ բաղադրատոմսերի ճկուն համակարգը հարմար է արդյունաբերական կիրառման տարբեր սցենարների համար:

  • Հետագծելի հայտնաբերման տվյալների համակարգը հեշտացնում է գործընթացի թերությունների հակադարձ հետագծումը և գործընթացի ստանդարտների վերահսկումը:

  •  Օգտագործողի համար հարմար ինտերֆեյս. ինտուիտիվ շահագործման մեթոդը և ծրագրային ապահովման օպտիմիզացված ալգորիթմի ձևավորումը դարձնում են այս թերությունների հայտնաբերման համակարգն ավելի հարմար օպերատորների համար սարքավորումներն օգտագործելու համար:



◇◇  Տեխնիկական բնութագրեր  ◇◇


Հայտնաբերման միավոր

Դիմումի սցենար

SMT պողպատե տրաֆարետի մուտքային ստուգում կամ ստուգում մաքրումից հետո

Հայտնաբերման տարրեր

Անցքի տարածք, դիրք, օֆսեթ, չափ, օտար առարկա, փորվածք, խցանված անցք, բացակայող անցք, լարվածություն, ընդլայնում և կծկում

Լարվածության չափում.

Բարձր ճշգրտությամբ ծրագրավորվող թվային լարվածության չափիչ, չափման միջակայքը 5-60 Ն/սմ:

Շրջանակի չափը

200*200*15~736*736*40 (մմ)

Առավելագույն հայտնաբերման տարածքի չափը

620*620 (մմ)

Հայտնաբերման արագություն

0.7S մեկ FOV-ի համար:

Նվազագույն չափելի մեկ անցքի տրամագիծը

20 մկմ

Առավելագույն չափելի մեկ անցքի տրամագիծը

9 մմ

Նվազագույն չափելի անցքերի տարածություն

100 մկմ

S համակարգի ճշգրտությունը

Դիրքի չափման ճշգրտությունը

3,45 մկմ (մեկ պիքսել)

Հայտնաբերման կրկնության ճշգրտություն

Gage R&R<3%

Շարժվող դիրքի ճշգրտություն

Դիրքորոշման ճշգրտություն՝ ± 3 μm, կրկնվող դիրքի ճշգրտություն՝ ± 3 μm

Օպտիկական համակարգ

Տեսախցիկ

Բասլեր 12 միլիոն պիքսել

Ոսպնյակներ

Կրկնակի հեռակենտրոն ոսպնյակ

Պիքսելների ճշգրտություն

3,45 մկմ

FOV չափը

14,13 մմ * 10,35 մմ (ըստ ցանկության)

Top Illuminator

Coaxial լույս

Ներքևի լուսավորիչ

Բարձր հաճախականության ստրոբային լուսավորություն

S ծրագրային գործառույթներ

Սարքավորումների փորձարկման ռեժիմ

Անցանց փորձարկում

Մոդելի համարների ծրագրավորման մեթոդ

Օֆլայն ծրագրավորում

Հիմնական ալգորիթմ

Քաղեք MARK ուղղումը կոորդինատների դիրքը հաշվարկելու համար: Վեկտորային պատկերների ալգորիթմը օգտագործվում է բացման և իրական Գերբերի միջև երկրաչափական դիրքի և չափի շեղումը հաշվարկելու համար

Տեսախցիկի ձևաչափ

RS-274X, ODB++

Օգտագործողի թույլտվությունների կառավարում

Աջակցում է հիերարխիկ մուտքի վերահսկմանը

ԱԻՆ

Աջակցեք հարմարեցված զարգացմանը

Պողպատե տրաֆարետային շտրիխ կոդի կառավարման գործառույթ

Ընտրովի, պահուստային ծրագրային ինտերֆեյս

Գրաֆիկի համեմատման գործառույթ

Աջակցություն

Տեղեկատվության կառավարման համակարգ

Բաղադրատոմսի համակարգ

Պատմական արձանագրություն

Փորձարկման գործընթացը և արդյունքների տվյալները գրանցվում են ֆայլերում, իսկ թեստի արդյունքները կարող են դիտվել անցանց

Փորձարկման մեթոդ

Աջակցում է հայտնաբերման բազմաթիվ ռեժիմների և կարգավորելի թեստի մակարդակների՝ հնարավորություն տալով խմբին հատուկ և մակարդակի հատուկ թեստի սահմանում տարբեր բաղադրիչների համար

SPC տվյալների վիճակագրություն

Հիստոգրամ, Xbar-R աղյուսակ, Cp&Cpk, օրական/շաբաթական/ամսական հաշվետվություն

Սարքավորումների ընդհանուր բնութագրեր

Գանտրի կառուցվածքը

Երկկողմանի մարմար

Դինամիկ համակարգ

Akribls մագնիսական լևիտացիայի գծային շարժիչ

Համակարգչային համակարգ

Windows 10 22H2 Pro

Արդյունաբերական համակարգչային ապրանքանիշ

Advantech

Ընդհանուր չափս

1450 մմ * 1350 մմ * 1650 մմ

(եռագույն լույսի բարձրությունը ներառված չէ)

Քաշը

Մոտ 1200 կգ


◇◇  Դիմումի տարածք  ◇◇

06-Թվային գրաֆիկական հայտնաբերման համակարգ




BGA Bumping Process, SMT Precision Stencil, Wafer-Level Bumping Stencil, Quartz Photomask, Micro-electroforming stencil:

Նախորդը: 
Հաջորդը: 

Կոնտակտային տվյալներ

Հեռախոս՝ +86-512-5792-3620  
 Էլ. փոստ՝ info@ptcstress.com
 Հասցե՝ No.581, Hengchangjing Road, Zhoushi Town, Kunshan City, Jiangsu Province, 215337, China

Հետևեք մեզ

Հարցեր ունե՞ք: Օգնության համար դիմեք մեզ:

Արագ հղումներ

Հեղինակային իրավունք © 2026 Suzhou PTC Optical Instrument Co., Ltd. Բոլոր իրավունքները պաշտպանված են:   苏ICP备19051399号-2