Patendi nr: US 11 060 930 B2
Omanik: Suzhou PTC optiline instrument
Nagu me teame, nimetatakse karastatud klaasi ka tugevdatud klaasiks. See on omamoodi eelpinge klaas. Ja see kompenseerib välise jõu kandmisel tekkivat pinnapinget, seega paraneb kandevõime. Selle tulemusena kasutatakse karastatud klaasi laialdaselt uste ja akende, autode uste ja akende, vitriintööstuse ja mitmesuguste elektrooniliste instrumentide ehitamisel. Puutepaneeliga, mis saavutab rakendusefekti töömeetodiga, mis surub koostule reageerimiseks välist survet, muutub mehaaniline survevastane mehhanism olulisteks eeskirjadeks ja suuremate tootjate jaoks indeksiks.
Lisaks, kuigi kandevõimet on pärast klaasi karastamist paranenud. Pinge on tavaliselt äärmiselt ebaühtlane, mis vähendab mehaanilist tugevust ja termilist stabiilsust, mis mõjutab ohutust ja viib isegi iseplahvatuseni. Eriti puutetundliku tööstuse õitseva arenguga muutub mehaaniline survevastane süsteem erinevate tootjate jaoks oluliseks regulatsiooniks ja indeksiks. Suured pinged mõjutavad oluliselt optilise klaasi optilist valguse läbilaskvust ja pildikvaliteeti.
Leiutis klaaspinna pingemõõtur ja mitmekordse karastatud
Pinna pingemõõtur lahendab tehnika tasemes tuntud probleemi, et klaasi pinna pinget on raske testida.
Kui PTC käesolevat leiutist kasutatakse mitmekordse karastatud klaasi pinna pinge testimiseks, tilgutage murdumisprisma pinnale läbi automaatse tilgutusseadme vähe murduvat vedelikku, seejärel asetage mõõteklaas murduvale prismale. Valgus siseneb pildiläätsesse, et kujutis tuvastada pärast seda, kui valgus peegeldub murduvast prismast. Tuvastatud kujutis teisendatakse anduri kaudu digitaalseks signaaliks koos klaasipinna pingeteabega ja saavutab lõpuks andmetöötluselemendi lõpliku pingearvutuse. Kuna käesolevas leiutises on kasutusele võetud mitme optilise tee süsteemi konstruktsioon, saab valgusallika, läätse ja pilditorude nurka üheaegselt reguleerida valgusallika kõrguse reguleerimisseadme, läätse reguleerimisstruktuuri ja pildiläätse toru nurga reguleerimise kaudu, et saada igas valgustees vähemalt üks üsna selge interferents. Sel viisil saab ühe ja mitme tugevdatud interferentsi ääre kujutise tuvastamist teostada samaaegselt ilma vastastikuse mõjutamiseta ning mõõtmise täpsus ja efekt paranevad.
