Оптикалық тексеру, AOI және сынақ жабдығы
Үй » Өнімдер » Жартылай өткізгішті жабдықтар » Чип науасы бұзылғандығын анықтау жабдығы

жүктеу

Бөлісу:
facebook бөлісу түймесі
twitter бөлісу түймесі
сызықты ортақ пайдалану түймесі
wechat бөлісу түймесі
linkedin бөлісу түймесі
pinterest бөлісу түймесі
whatsapp бөлісу түймесі
kakao бөлісу түймесі
snapchat бөлісу түймесі
телеграмма бөлісу түймесі
бөлісу түймесін басыңыз

Чип науасы бұзылғанын анықтау жабдығы

Бұл Warpage өлшеу жабдығы пластмасса бұйымдарының деформациясын жоғары сапалы онлайн анықтау кезінде IC науасының тиімді және тұрақты жүктелуіне қол жеткізуге арналған. Ол қол еңбегінің қарқындылығын айтарлықтай төмендетеді, сапа тәуекелдері мен ысыраптарын төмендетеді, кәсіпорындардың нарықтағы бәсекеге қабілеттілігін арттырады. Жабдық жаңа энергетика, ақпараттық-коммуникациялық жабдықтар, смарт желі секторлары және басқа салаларда қолданылады.

 

 

Қол жетімділік:
Саны:


◇◇ Мүмкіндіктер  ◇◇


  • Соққыларды өлшеу жабдығы трансферттік серво порталдық құрылымды пайдаланады және өнімдер тексеру үшін конвейер лентасында ағып кетеді.

  • Жабдықтың жоғары тиімділігін қамтамасыз ететін үздіксіз және үздіксіз жүктемеге қол жеткізу үшін сол және оң механикалық қолдар кезектесіп жұмыс істейді.

    Жабдықты тексеру циклінің уақыты 2 с/дана.

  • Бұрылысты өлшеу жабдығы датчиктер арқылы деформация жағдайын (OK/NG) анықтайтын 6 индукциялық модульдер жиынтығымен жабдықталған.


Алдыңғы: 
Келесі: 

Байланыс ақпараты

Телефон: +86-512-5792-3620  
 Электрондық пошта: info@ptcstress.com
 Мекен-жайы: №581, Хэнчанцзин жолы, Чжоуши қаласы, Куншан қаласы, Цзянсу провинциясы, 215337, Қытай

Бізге жазылыңыз

Сұрақтарыңыз бар ма? Көмек алу үшін бізге хабарласыңыз.

Жылдам сілтемелер

Авторлық құқық © 2026 Suzhou PTC Optical Instrument Co., Ltd. Барлық құқықтар қорғалған.   苏ICP备19051399号-2