AOI-apparatuur voor één eenheid

Voor keramisch substraat uit één eenheid na het verenkelen, voert deze AOI-machine automatische inspectie uit met de cosmetische defecten aan de boven-, onder- en andere vier zijden.

Normaal gesproken zijn er meerdere handmatige inspectiestations in fabrieken om chip-, barst- en uitsteekfouten te controleren. Dankzij de superkorte cyclustijd worden met deze halfgeleiderinspectieapparatuur aanzienlijke rendementsverbeteringen gerealiseerd.

Beschikbaarheid:

Hoeveelheid:



Navraag Voeg toe aan winkelwagen

Productbeschrijving

◇◇ Kenmerken ◇◇

● Volledig geautomatiseerde inspectie

Integreert mechanische handling met machine vision-technologie om volledige automatisering te bereiken.

● Uitgebreide defectdetectie

Maakt gebruik van speciale inspectiestations voor zowel boven- als onderoppervlakken om detectienauwkeurigheid en betrouwbaarheid te garanderen.

● Geautomatiseerde materiaalverwerking

Beschikt over automatisch laden en lossen om handmatige tussenkomst en arbeidsvereisten te minimaliseren.

● Flexibele productieconfiguratie

Ondersteunt de seriële verbinding van meerdere inspectie-eenheden voor producten met verschillende kwaliteitseisen, waardoor aanpasbare productie-indelingen mogelijk zijn met deze AOI-printplaatapparatuur.

● Geavanceerd gegevensbeheer

Biedt uitgebreide gegevensfuncties, waaronder opvragen, exporteren en analyseren via een intuïtieve, MES-compatibele interface.

● AI-verbeterde kwaliteitscontrole

Bevat kunstmatige intelligentie voor het markeren van defecten, modeltraining en het filteren van valse defecten om de first-pass-opbrengst te verbeteren.

● Snelle werking

Levert een toonaangevende verwerkingscapaciteit van ongeveer 1.200 stuks per uur.

◇◇ Specificaties ◇◇

Productgrootte	Maximaal: 71,5*62,5 mm
Detectie-efficiëntie	3s/st
Luchtdruk	0,4-0,7 MPa
Stroomverbruik	Ongeveer 13 kW
Voeding	Eenfase 3-draads AC 220V+10%
Totale maat	2450 mm (L) * 2000 mm (B) * 2100 mm (H)
Gewicht	Ongeveer 3000 kg