Optische inspectie, AOI en testapparatuur

Thuis » Producten » Halfgeleiderapparatuur » Apparatuur voor inspectie van cosmetische defecten

Keramisch substraat Cosmetische defectinspectieapparatuur

Deel met:

Inspectieapparatuur voor cosmetische defecten

De halfgeleider-AOI-apparatuur is een inspectiemachine voor cosmetische defecten, ontworpen voor keramische substraten, die zijn gemaakt van Al2O3, ALN en Si₃N₄.

Defecttypes omvatten vervuiling, vlek, chip, uitsteeksel, microscheur, gat, oppervlaktemarkering, enz.

Beschikbaarheid:

Hoeveelheid:



Navraag Voeg toe aan winkelwagen

Productbeschrijving

◇◇ Kenmerken ◇◇

● Realtime inspectie en weergave van resultaten

De software-interface biedt realtime monitoring van het inspectieproces en geeft de uiteindelijke inspectieresultaten weer.

● Defectdetectie en gegevensbeheer

Detecteert en categoriseert defecten, waarbij de exacte locatie ervan wordt weergegeven.

Genereert defectkaarten en slaat volledige inspectiebeelden op.

● Product- en parameterconfiguratie

Ondersteunt nieuwe productinstellingen en parameteraanpassingen.

Automatische parameteromschakeling bij productwijziging.

Capaciteit productdatabase: >50 sets.

● Volgen en exporteren van productiegegevens

Registreert productiegegevens, inclusief productinformatie, batchinformatie, uitvoerhoeveelheden, opbrengststatistieken, defectaantallen en defectpercentages.

Maakt aanpasbare gegevensopslag en export naar Excel mogelijk.

● Compatibele productafmetingen

Lengte: 100–194 mm Breedte: 100–142 mm Dikte: ≤ 0,635 mm

● Continue werking

Deze apparatuur voor visuele inspectie met uiterlijke defecten ondersteunt non-stop laden en lossen voor een ononderbroken productie.

◇◇ Technische specificaties ◇◇