光学検査、AOI、およびテスト装置
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外観欠陥検査装置

半導体AOI装置は、Al2O3、ALN、Si3N4などのセラミック基板を対象とした外観欠陥検査装置です。 
欠陥の種類には、汚染、スポット、欠け、突起、マイクロクラック、穴、表面マークなどが含まれます。
 
可用性:
量:


◇◇ 特徴 ◇◇


● リアルタイム検査と結果表示

ソフトウェア インターフェイスは、検査プロセスをリアルタイムで監視し、最終検査結果を表示します。

● 欠陥の検出とデータ管理

欠陥を検出して分類し、正確な位置を表示します。

欠陥マップを生成し、完全な検査画像を保存します。

● 製品とパラメータの構成

新製品のセットアップやパラメータ調整をサポートします。

製品変更時のパラメータ自動切り替え。

製品データベースの容量: > 50 セット。

● 生産データの追跡とエクスポート

製品情報、バッチ情報、生産量、歩留り統計、欠陥数、欠陥率などの生産データを記録します。

カスタマイズ可能なデータ ストレージと Excel へのエクスポートが可能になります。

● 適合製品寸法

長さ: 100 ~ 194 mm 幅: 100 ~ 142 mm 厚さ: ≤ 0.635 mm

● 連続運転

この外観欠陥外観検査装置は、中断のない生産のための無停止のロードおよびアンロードをサポートします。



◇◇ 技術仕様 ◇◇


サイクルタイム

6秒/個

消費電力

約6KW

空気圧

0.6Mpa

電圧

AC220V

全体のサイズ

3900mm(長さ)*1900mm(幅)*2000mm(高さ)



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連絡先情報

電話: +86-512-5792-5888
 電子メール: sales@ptcstress.com
 住所: 215337 江蘇省昆山市周石鎮恒昌京路 581 号

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