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◇◇ 概要 ◇◇
この専用システムは、ローディングユニット、AOI マシン、アンローディングユニット、ワークステーションを統合し、検査効率を大幅に向上させます。デュアルチャネル検査モードを備え、完全に自動化されたワンストップ操作が可能になり、生産コストが削減されます。
◇◇ 特徴 ◇◇
リアルタイム検査と結果表示
検査プロセスのリアルタイム監視を提供します
最終検査結果を視覚化インターフェースで表示
欠陥検出および分析モジュール
欠陥の自動識別と分類を実行します
欠陥の寸法を測定し、座標位置を提供します
完全な画像アーカイブによる欠陥抽出機能を備えています
生産データ統計システム
生産データ、製品情報、バッチの詳細を自動的に追跡します
生産数量と歩留まりをリアルタイムに計算
データストレージ、クエリ機能、Excel形式のエクスポートをサポート
データ管理とシステム統合
データクエリ、エクスポート、分析機能を統合
ユーザーフレンドリーな操作インターフェイス
シームレスな統合のための MES システム インターフェイス
製品パラメータの設定
新しい製品プロファイルの作成機能
カスタマイズ可能な検査パラメータテンプレート
システムパラメータの設定
アクセス制御による構成可能なシステムパラメータ
コンピュータ化された外観検査装置では、特別な機能の有効化オプションが利用可能です
ハードウェアパラメータ調整インターフェース（光源、カメラなど）
高精度オートフォーカスシステム
独自のオートフォーカス機構
高い検査精度を実現
設備効率
標準検査能力：80個/時間
◇◇ 仕様 ◇◇
型番 |
ME-EFD |
検査効率 |
50S/PCS（手動によるロードおよびアンロードは含まれません） |
検査品 |
AMB 銅セラミック基板、ダイシング後、切断チャネル付き事前個片化 |
検査項目 |
エッチング係数の計算式：エッチング係数＝銅の厚さ／銅の長さ |
検出率 |
99.9% |
オーバーキル率 |
5% |
寸法 |
3000mm(長さ)×2000mm(幅)×2080mm(高さ) 寸法許容公差: ±10%、三色ライトは含まれません。 |
◇◇ よくある質問 ◇◇
1. AMB セラミック基板のエッチング係数とは何ですか?
エッチング係数は、特にエレクトロニクスで使用されるようなパターン付き基板におけるエッチング プロセスの精度と品質を測定する重要なパラメータです。 (例: PCB、AMB/LTCC/HTCC セラミック)。
2. AMB セラミック基板のエッチング係数を計算するにはどうすればよいですか?
定義: エッチング係数は、アンダーカット (横方向のエッチング) に対するエッチングされたフィーチャー (トレンチまたはビアなど) の深さの比率を定量化します。
これは、エッチング プロセスが垂直側壁をどの程度適切に維持し、過度の横方向の浸食を回避しているかを反映します。
エッチング係数=アンダーカット(u) / エッチングの深さ(h)
3. セラミック基板ではなぜエッチング係数が重要なのでしょうか?
パフォーマンス要件
エッチング係数が劣ると、短絡、インピーダンスの不整合、または弱い相互接続が発生する可能性があります。
デザインへの影響
エッチング係数が低いと、設計者はフィーチャの間隔を増やす必要が生じ、小型化が制限される可能性があります。
