Inspecție optică, AOI și echipamente de testare
Acasă » Produse » Echipamente semiconductoare » AMB Etching Factor Inspection Equipment

încărcare

Distribuie la:
butonul de partajare pe facebook
butonul de partajare pe Twitter
butonul de partajare a liniei
butonul de partajare wechat
butonul de partajare linkedin
butonul de partajare pe pinterest
butonul de partajare whatsapp
butonul de partajare kakao
butonul de partajare prin snapchat
butonul de partajare a telegramelor
partajați acest buton de partajare

Echipament de inspecție a factorului de gravare AMB

Este un echipament AOI automat dezvoltat special pentru inspecția factorului de gravare a substratului ceramic AMB. Factorul de gravare este un parametru cheie pentru fidelitatea gravării, având un impact critic asupra preciziei dimensionale și a performanței electrice a substraturilor ceramice microfabricate.
 
 
Disponibilitate:
Cantitate:


◇◇ Prezentare generală  ◇◇


Acest sistem specializat integrează o unitate de încărcare, o mașină AOI, o unitate de descărcare și o stație de lucru pentru a îmbunătăți semnificativ eficiența inspecției. Dispunând de un mod de inspecție cu două canale, acesta permite o operare complet automatizată, reducând costurile de producție.



◇◇  Caracteristici  ◇◇


  • Inspecție în timp real și afișare a rezultatelor

Oferă monitorizarea în timp real a procesului de inspecție

Afișează rezultatele finale ale inspecției cu interfață de vizualizare

  •  Modul de detectare și analiză a defectelor

Efectuează identificarea și clasificarea automată a defectelor

Măsoară dimensiunile defectelor și asigură poziționarea în coordonate

Dispune de capacitate de extragere a defectelor cu arhivare completă a imaginilor

  • Sistem de statistică a datelor de producție

Urmărește automat datele de producție, informațiile despre produse și detaliile lotului

Calculează cantitățile de producție și ratele de randament în timp real

Acceptă stocarea datelor, funcțiile de interogare și exportul în format Excel

  •  Managementul datelor și integrarea sistemului

Funcții integrate de interogare, export și analiză a datelor

Interfață de operare ușor de utilizat

Interfața sistemului MES pentru o integrare perfectă

  • Configurarea parametrilor produsului

Capacitate nouă de creare a profilului de produs

Șabloane de parametri de inspecție personalizabile

  • Setări ale parametrilor sistemului

Parametri de sistem configurabili cu control acces

Opțiunile de activare a funcțiilor speciale sunt disponibile cu echipamentul de inspecție vizuală computerizată

Interfață de reglare a parametrilor hardware (surse de lumină, camere, etc.)

  •  Sistem de focalizare automată de înaltă precizie

Mecanism proprietar de focalizare automată

Oferă o precizie ridicată de inspecție

  •  Eficiența echipamentelor

Debit standard de inspecție: 80 buc/oră



◇◇  Specificații  ◇◇


Model nr.

ME-EFD

Eficiența inspecției

50S/BUC (Nu include încărcarea și descărcarea manuală)

Produs de inspectie

Substrat ceramic de cupru AMB, post-cuburi și pre-singulare cu canale de tăiere

Articol de inspecție

Formula de calcul al factorului de gravare: factor de gravare = grosimea cuprului/lungimea cuprului

Rata de detectare

99,9%

Rata de exces

5%

Dimensiune

3000 mm (L) x 2000 mm (L) x 2080 mm (Î)

Dimensiunea tolerantă admisă: ±10%, nu include lumina tricoloră.



◇◇  Întrebări frecvente  ◇◇


1. Ce este factorul de gravare a substratului ceramic AMB?

Factorul de gravare este un parametru critic care măsoară precizia și calitatea procesului de gravare, în special în substraturile cu model precum cele utilizate în electronică. (de exemplu, PCB, ceramică AMB/LTCC/HTCC).


2. Cum se calculează factorul de gravare a substratului ceramic AMB?

Definiție:  Factorul de gravare cuantifică raportul dintre adâncimea trăsăturii gravate (de exemplu, un șanț sau o cale) și decupaj (gravare laterală).

Acesta reflectă cât de bine procesul de gravare menține pereții laterali verticali și evită eroziunea laterală excesivă.

Factor de gravare=Undercut (u) / Adâncime de Etch (h)


3. De ce contează factorul de gravare în substraturile ceramice?

Cerințe de performanță

Factorii slabi de gravare pot cauza scurtcircuite, nepotriviri de impedanță sau interconexiuni slabe.

Impactul asupra designului

Un factor de gravare scăzut îi poate forța pe designeri să mărească distanța dintre caracteristici, limitând miniaturizarea.


Anterior: 
Următorul: 

Informații de contact

Telefon: +86-512-5792-5888
 E-mail: sales@ptcstress.com
 Adresa: No.581, Hengchangjing Road, Zhoushi Town, Kunshan City, Jiangsu Province, 215337, China

Urmați-ne

Ai întrebări? Contactați-ne pentru asistență.

Legături rapide

Copyright © 2026 Suzhou PTC Optical Instrument Co., Ltd. Toate drepturile rezervate.   苏ICP备19051399号-2