Optical Inspection, AOI, at Test Equipment

Bahay » Mga produkto » Kagamitang Semiconductor » Kagamitang Pang-inspeksyon ng Depekto sa Kosmetik

Ceramic Substrate Cosmetic Defect Inspection Equipment

Ibahagi sa:

Kagamitang Pang-inspeksyon ng Depekto sa Kosmetiko

Ang semiconductor AOI equipment ay isang cosmetic defect inspection machine na idinisenyo para sa mga ceramic substrates, na gawa sa Al2O3, ALN, at Si₃N₄.

Kasama sa mga uri ng depekto ang kontaminasyon, spot, chip, protrusion, micro-crack, butas, marka sa ibabaw, atbp.

Availability:

Dami:



Pagtatanong Idagdag sa Cart

Paglalarawan ng Produkto

◇◇ Mga Tampok ◇◇

● Real-Time na Inspeksyon at Display ng mga Resulta

Ang interface ng software ay nagbibigay ng real-time na pagsubaybay sa proseso ng inspeksyon at nagpapakita ng panghuling resulta ng inspeksyon.

● Detection ng Depekto at Pamamahala ng Data

Tinutukoy at ikinategorya ang mga depekto, na nagpapakita ng kanilang mga tiyak na lokasyon.

Bumubuo ng mga mapa ng depekto at nag-iimbak ng kumpletong mga larawan ng inspeksyon.

● Configuration ng Produkto at Parameter

Sinusuportahan ang bagong setup ng produkto at mga pagsasaayos ng parameter.

Awtomatikong pagpapalit ng parameter sa pagbabago ng produkto.

Kapasidad ng database ng produkto: >50 set.

● Pagsubaybay at Pag-export ng Data ng Produksyon

Itinatala ang data ng produksyon, kabilang ang impormasyon ng produkto, impormasyon ng batch, dami ng output, istatistika ng ani, bilang ng depekto, at rate ng depekto.

Pinapagana ang nako-customize na pag-iimbak ng data at pag-export sa Excel.

● Katugmang sukat ng produkto

Haba: 100–194 mm Lapad: 100–142 mm Kapal: ≤ 0.635 mm

● Patuloy na Operasyon

Sinusuportahan ng Appearance Defect Visual Inspection Equipment na ito ang walang-hintong pag-load at pag-unload para sa walang patid na produksyon.

◇◇ Mga Teknikal na Detalye ◇◇

Oras ng pag-ikot	6s/pcs
Pagkonsumo ng kuryente	Mga 6KW
Presyon ng hangin	0.6Mpa
Boltahe	220VAC
Pangkalahatang laki	3900mm(L)1900mm(W)2000mm(H)