-
იგი იღებს შუშის ზედაპირზე იონის გაცვლის ფენის ოპტიკურ ტალღის გამაძლიერებელ ეფექტს გასაზომად. სინათლის წყაროდან გამოსხივებული დივერგენციული შუქი გადის ჭრილში და კონვერგირდება მაღალი გარდატეხის ინდექსის ცილინდრული პრიზმით და ხდება პარალელური სინათლე. სინათლის წყაროს პოზიციის რეგულირებით, პარალელური სინათლის სხივი ეცემა მინასა და პრიზმას შორის ინტერფეისზე კრიტიკული კუთხით. შუშის ზედაპირზე არსებული სტრესის გამო სინათლე იშლება ორ ვექტორულ ნათებად, რომელთა ვიბრაციის სიბრტყეები ერთმანეთის მიმართ პერპენდიკულარულია. სინათლის ორი სხივი სხვადასხვა სიჩქარით ვრცელდება შუშის იონგამცვლელ ფენაში, ამიტომ ისინი პრიზმამდე ირღვევა მთლიანი არეკვლის სხვადასხვა კუთხით. პრიზმიდან გამოსხივებული შუქი აირეკლება სარკეში, შედის ინტერფერენციულ ფილტრში, ფოკუსირებულია ტელესკოპის სისტემით, შემდეგ გადის ანალიზის სარკეში და გამოსახულია რეტიკულაზე, რათა შექმნას მსუბუქი და მუქი საფეხურიანი გამოსახულება. საფეხურების სიმაღლე და საფეხურების ხაზების რაოდენობა შეიძლება ზუსტად გაიზომოს ანალიზის პროგრამული უზრუნველყოფის საშუალებით, რათა გამოვთვალოთ ზედაპირული სტრესის ინტენსივობა და სტრესის ფენის სიღრმე.
-
იგი ფართოდ გამოიყენებოდა ტელეფონის შუშის პანელის, LCD პანელის და სხვა ქიმიურად გამაგრებული მინის პროდუქტების ხარისხის კონტროლში.
-
მომხმარებლებს სთავაზობენ გამოიყენონ საცნობარო ფირფიტა ცნობილი თვისებებით, მათ შორის, გარდატეხის ინდექსის, ფოტოელასტიური მუდმივი, ზედაპირული სტრესის მნიშვნელობა, დაძაბულობის ფენის სიღრმე და მინის სისქე.
-
ჩვეულებრივ, ზედაპირული სტრესის მრიცხველის დაძაბულობის გაზომვის დიაპაზონი არის 0-1000 Mpa.
-
ჩვენი შუშის სისქის საზომი იყენებს სინათლის არეკვლას სისქის დასადგენად სპეციალური ლინზებით.
-
მისი გამეორების სიზუსტეა 0.6μm.
