-
Бул өлчөө үчүн айнек бетиндеги ион алмашуу катмарынын оптикалык толкун эффектин кабыл алат. Жарык булагынан бөлүнүп чыккан дивергенттик жарык жарыгынан өтүп, жогорку сынуу көрсөткүчү цилиндрдик призма менен жакындашып, параллелдүү жарыкка айланат. Жарык булагынын абалын тууралоо менен айнек менен призманын ортосундагы интерфейске критикалык бурчта параллелдүү жарык шооласы түшөт. Айнек бетинде болгон стресстен улам жарык термелүү тегиздиктери бири-бирине перпендикуляр болгон эки вектордук жарыкка ажырайт. Жарыктын эки шооласы айнектин ион алмашуу катмарында ар кандай ылдамдыкта тарайт, ошондуктан алар призмага ар кандай толук чагылуу бурчтарында сынышат. Призмадан чыккан жарык күзгү аркылуу чагылышып, интерференциялык фильтрге түшүп, телескоп системасы тарабынан фокусталат, андан соң анализ күзгүсүнөн өтүп, торчого түшүрүлүп, жарык жана караңгы кадам сүрөтүн пайда кылат. Кадамдардын бийиктиги жана кадам сызыктарынын саны беттик стресстин интенсивдүүлүгүн жана стресс катмарынын тереңдигин эсептөө үчүн анализдик программалык камсыздоо аркылуу так өлчөнө алат.
-
Бул телефондун айнек панелинин, ЖК панелинин жана башка химиялык темперацияланган айнек буюмдарынын сапатын көзөмөлдөөдө кеңири колдонулат.
-
Колдонуучуларга сынуу көрсөткүчү, фотоэластикалык туруктуу, беттик стресстин мааниси, стресс катмарынын тереңдиги жана айнек калыңдыгы сыяктуу белгилүү касиеттери бар маалымдама плитасын колдонуу сунушталат.
-
Адатта, беттик стресс өлчөгүчтүн стресс өлчөө диапазону 0-1000 МПа.
-
Биздин айнек калыңдыгын өлчөгүч атайын линзалар менен калыңдыгын аныктоо үчүн жарык чагылдырууну колдонот.
-
Анын кайталануу тактыгы 0,6μm.
