Optik Təftiş, AOI və Test Avadanlıqları
Ev » Məhsullar » Yarımkeçirici Avadanlıqlar » Rəqəmsal Qrafik Aşkarlama Sistemi

yüklənir

Paylaş:
facebook paylaşma düyməsi
twitter paylaşma düyməsi
xətt paylaşma düyməsi
wechat paylaşma düyməsi
linkedin paylaşma düyməsi
pinterest paylaşma düyməsi
whatsapp paylaşma düyməsi
kakao paylaşma düyməsi
snapchat paylaşma düyməsi
telegram paylaşma düyməsi
bu paylaşma düyməsini paylaşın

Rəqəmsal Qrafik Aşkarlama Sistemi

Şəkil Təhlili Vizual Təftiş Avadanlığı avtomatlaşdırılmış sürətli qüsurların ölçülməsinə və nümunələrin müqayisəli təhlilinə imkan verir, ənənəvi əl ilə yoxlama metodları ilə müqayisədə istehsal səmərəliliyini əhəmiyyətli dərəcədə artırır və əmək xərclərini azaldır. O, məhsulların yüksək keyfiyyət standartlarına cavab verməsini təmin edir, keyfiyyətsiz materialların istifadəsi nəticəsində yaranan maddi israfın qarşısını alır.
 
 
Mövcudluq:
Miqdarı:
  • SMI-M5

  • PTC


◇◇ Xüsusiyyətlər  ◇◇


  • Kompleks aşkarlama imkanları: Müxtəlif müştəri ehtiyaclarına cavab verən deşik sahəsi, ölçülər, yad obyektin aşkarlanması və digərləri daxil olmaqla çoxsaylı aşkarlama elementlərini dəstəkləyir.

  • PCB sənayesində ümumi məlumat formatlarını dəstəkləyir: Gerber və ODB++, elektron komponent elementlərini təhlil etmək üçün oflayn rəsm idxalına imkan verir. Komponent üçün xüsusi yoxlama meyarları konfiqurasiya edilə bilər.

  • Alman Basler yüksək sürətli, yüksək ayırdetmə qabiliyyətinə malik sənaye kameraları: Yüksək parlaqlıqda işıq mənbələri ilə təchiz edilmiş avadanlıq yüksək sürətli uçan çəkilişlərə nail olur. Unikal çox yivli sinxron emal alqoritmi ilə birləşərək, daha səmərəli təsvirin təhlili və aşkarlanmasına imkan verir.

  • Yüksək dəqiqlikli hərəkət aqreqatları: Sinqapur Akribis yüksək dəqiqlikli maqnit levitasiya xətti mühərrikləri, UK Renishaw ultra-dəqiq ızgara tərəzi və Tayvan Hiwin yüksək dəqiqlikli xətti bələdçi;

  •  Güclü uyğunlaşma: Müxtəlif spesifikasiyalara malik trafaretləri yoxlaya bilir, çevik resept sistemi isə müxtəlif sənaye tətbiqi ssenariləri üçün uyğundur.

  • İzlənə bilən aşkarlama məlumat sistemi proses qüsurlarının əks izlənilməsini və proses standartlarına nəzarəti asanlaşdırır.

  •  İstifadəçi dostu interfeys: İntuitiv əməliyyat metodu və optimallaşdırılmış proqram alqoritmi dizaynı bu qüsur aşkarlama sistemini operatorlar üçün avadanlıqdan istifadə etmək üçün daha rahat edir.



◇◇  Texniki Spesifikasiyalar  ◇◇


Aşkarlama vahidi

Tətbiq ssenarisi

SMT polad trafaret daxil olan yoxlama və ya təmizləndikdən sonra yoxlama

Aşkarlama elementləri

Delik sahəsi, mövqeyi, ofset, ölçüsü, yad obyekt, buruq, bloklanmış dəlik, çatışmayan dəlik, gərginlik, genişlənmə və daralma

Gərginliyin ölçülməsi:

Yüksək dəqiqliyə malik proqramlaşdırıla bilən rəqəmsal gərginlikölçən, ölçmə diapazonu 5-60 N/sm.

Çərçivə ölçüsü

200*200*15~736*736*40(mm)

Maksimum aşkarlama sahəsi ölçüsü

620*620(mm)

Aşkarlama sürəti

FOV üçün 0,7S.

Min ölçülə bilən tək çuxur diametri

20μm

Maksimum ölçülə bilən tək çuxur diametri

9 mm

Minimum ölçülə bilən deşik aralığı

100μm

S sisteminin dəqiqliyi

Mövqe ölçmə dəqiqliyi

3.45μm (bir piksel)

Aşkarlamanın təkrar dəqiqliyi

Gage R&R<3%

Hərəkətli mövqe dəqiqliyi

Mövqe dəqiqliyi: ±3μm, təkrarlanan mövqe dəqiqliyi: ±3μm

Optik sistem

Kamera

Basler 12 milyon piksel

Lens

İkiqat telesentrik lens

Piksel dəqiqliyi

3.45μm

FOV ölçüsü

14.13mm*10.35mm (isteğe bağlı)

Üst İşıqlandırıcı

Koaksial işıq

Aşağı İşıqlandırıcı

Yüksək tezlikli strobe arxa işıqlandırma

S proqram funksiyaları

Avadanlığın sınaq rejimi

Offline test

Model nömrələrinin proqramlaşdırılması üsulu

Off-line proqramlaşdırma

Əsas alqoritm

Koordinat mövqeyini hesablamaq üçün MARK düzəlişini çıxarın. Vektor şəkillər alqoritmi açılış və faktiki Gerber arasında həndəsi mövqe və ölçü sapmasını hesablamaq üçün istifadə olunur

Kamera formatı

RS-274X, ODB++

İstifadəçi icazələrinin idarə edilməsi

İerarxik giriş nəzarətini dəstəkləyir

FHN

Fərdi inkişafı dəstəkləyin

Polad trafaret ştrix kodu idarəetmə funksiyası

Könüllü, ehtiyat proqram interfeysi

Qrafik müqayisə funksiyası

Dəstək

İnformasiya idarəetmə sistemi

Resept sistemi

Tarixi rekord

Test prosesi və nəticə məlumatları fayllarda qeyd olunur və test nəticələrinə oflayn baxıla bilər

Test üsulu

Müxtəlif komponentlər üçün qrupa və səviyyəyə xüsusi test tərifinə imkan verən çoxsaylı aşkarlama rejimlərini və konfiqurasiya edilə bilən test səviyyələrini dəstəkləyir.

SPC məlumat statistikası

Histoqram, Xbar-R Diaqramı, Cp&Cpk, Gündəlik/Həftəlik/Aylıq Hesabat

Avadanlığın ümumi spesifikasiyası

Portal quruluşu

İki sürücülü mərmər

Dinamik sistem

Akribls maqnit levitasiya xətti mühərriki

Kompüter sistemi

Windows 10 22H2 Pro

Sənaye kompüter markası

Advantech

Ümumi ölçü

1450mm*1350mm*1650mm

(üçrəngli işıq hündürlüyü daxil deyil)

Çəki

Təxminən 1200 KG


◇◇  Tətbiq sahəsi  ◇◇

06-Rəqəmsal qrafik aşkarlama sistemi




BGA Bumping Process, SMT Precision Stencil, Wafer-Level Bumping Stencil, Kvars Fotomaska, Mikro-elektroformasiya trafareti.

Əvvəlki: 
Sonrakı: 

Əlaqə məlumatı

Telefon: +86-512-5792-3620  
 E-poçt: info@ptcstress.com
 Ünvan: No.581, Hengchangjing Road, Zhoushi Town, Kunshan City, Jiangsu Province, 215337, China

Bizi İzləyin

Hər hansı bir sualınız var? Yardım üçün bizimlə əlaqə saxlayın.

Sürətli bağlantılar

Copyright © 2026 Suzhou PTC Optical Instrument Co., Ltd. Bütün hüquqlar qorunur.   苏ICP备19051399号-2