Optesch Inspektioun, AOI, & Testausrüstung
Doheem » Produkter » Semiconductor Ausrüstung » Digital Grafik Detektiounssystem

lueden

Deelen op:
Facebook Deele Knäppchen
Twitter Deele Knäppchen
Linn Deele Knäppchen
wechat Deele Knäppchen
Linkedin Deele Knäppchen
Pinterest Deele Knäppchen
WhatsApp Deele Knäppchen
Kakao Deele Knäppchen
Snapchat Deele Knäppchen
Telegram Deele Knäppchen
deelt dësen Deele Knäppchen

Digital Grafik Detektioun System

D'Bildanalyse Visuell Inspektiounsausrüstung erméiglecht automatiséiert séier Defektmiessung a Mustervergleichsanalyse, d'Produktiounseffizienz wesentlech verbessert an d'Aarbechtskäschte reduzéieren am Verglach mat traditionelle manuelle Inspektiounsmethoden. Et garantéiert datt d'Produkter qualitativ héichwäerteg Normen entspriechen, vermeit Materialverschwendung verursaacht duerch d'Benotzung vun substandard Materialien.
 
 
Disponibilitéit:
Quantitéit:
  • SMI-M5

  • PTC


◇◇ Features  ◇◇


  • Iwwergräifend Detektiounsfäegkeeten: Ënnerstëtzt verschidde Detektiounsartikelen, dorënner Lachberäich, Dimensiounen, Auslännerkennung an anerer, entsprécht verschidde Clientsbedierfnesser.

  • Ënnerstëtzt PCB Industrie gemeinsam Daten Formater: Gerber & ODB ++, aktivéiert offline Zeechnen Import fir Analyse elektronesch Komponent Elementer. Komponentspezifesch Inspektiounskriterien kënne konfiguréiert ginn.

  • Däitsch Basler High-Speed, High-Resolutioun Industriekameraen: Equipéiert mat High-Hellness-Liichtquellen, erreecht d'Ausrüstung High-Speed-Fléien Shooting. Gekoppelt mat engem eenzegaartege Multi-threaded Synchron-Veraarbechtung Algorithmus, erméiglecht et méi effizient Bildanalyse an Detektioun.

  • Héich Präzisioun Plënneren Unitéiten: Singapur Akribis héich-Präzisioun Magnéitfeld levitation linear Motore, UK Renishaw ultra-Präzisioun grating Skala an Taiwan Hiwin héich-Präzisioun linear Guide;

  •  Staark Adaptabilitéit: Kapabel fir Schabloune mat verschiddene Spezifikatioune z'inspektéieren, während e flexibele Rezeptsystem fir verschidden industriell Uwendungsszenarien gëeegent ass.

  • De tracéierbare Detektiounsdatensystem erliichtert ëmgedréint Tracing vu Prozessdefekter a Kontroll vu Prozessnormen.

  •  User-frëndlech Interface: Déi intuitiv Operatiounsmethod an optiméiert Software Algorithmus Design maachen dësen Defekterkennungssystem méi bequem fir d'Betreiber d'Ausrüstung ze benotzen.



◇◇  Technesch Spezifikatioune  ◇◇


Detektioun Eenheet

Applikatioun Szenario

SMT Stol stencil Entréeën Inspektioun oder Inspektioun no Botzen

Detektioun Elementer

Lach Beräich, Positioun, Offset, Gréisst, Auslänner Objet, Burr, blockéiert Lach, fehlend Lach, Spannung, Expansioun a Kontraktioun

Spannungsmessung:

Programméierbar digital Spannungsmeter mat héijer Präzisioun, Miessbereich 5-60 N/cm.

Frame Gréisst

200*200*15~736*736*40 (mm)

Maximal Detectioun Beräich Gréisst

620 * 620 (mm)

Detektiounsgeschwindegkeet

0,7S pro FOV.

Min moossbare eenzege Lach Duerchmiesser

20 μm

Max moossbaren eenzegen Lach Duerchmiesser

9 mm

Min moossbare Lachabstand

100 μm

S ystem Genauegkeet

Positioun Miessung Genauegkeet

3.45μm (1 Pixel)

Detektioun Widderhuelung Genauegkeet

Gage R&R <3%

Beweegungspositioun Genauegkeet

Positionéierungsgenauegkeet: ± 3μm, Widderhuelungsgenauegkeet: ± 3μm

Optesch System

Kamera

Basler 12 Millioune Pixel

Lens

Duebel telezentresch Lens

Pixel Genauegkeet

3,45 μm

FOV Gréisst

14.13mm * 10.35mm (optional)

Top Illuminator

Koaxial Luucht

Bottom Illuminator

Héichfrequenz Strobe-Beleuchtung

S oftware Funktiounen

Ausrüstung Testmodus

Offline Testen

Modellnummer programméiere Method

Off-line programméiere

Haaptalgorithmus

Extrait MARK Korrektur fir d'Koordinatpositioun ze berechnen. Vector Biller Algorithmus gëtt benotzt fir d'geometresch Positioun a Gréisst Ofwäichung tëscht Ouverture an aktuell Gerber ze berechnen

Cam Format

RS-274X, ODB++

Benotzer Erlaabnis Gestioun

Ënnerstëtzt hierarchesch Zougangskontroll

MES

Ënnerstëtzt personaliséiert Entwécklung

Stol stencil Barcode Gestioun Funktioun

Fakultativ, reservéieren Software Interface

Grafik Verglach Funktioun

Ënnerstëtzung

Informatioun Management System

Rezept System

Historesche Rekord

Den Testprozess an d'Resultatdaten ginn a Dateien opgeholl, an d'Testresultater kënnen offline gekuckt ginn

Test Method

Ënnerstëtzt verschidde Detektiounsmodi a konfiguréierbar Testniveauen, erméiglecht Gruppespezifesch an Niveauspezifesch Testdefinitioun fir verschidde Komponenten

SPC Daten Statistiken

Histogram, Xbar-R Chart, Cp&Cpk, Daily/Wochen/Monthly Report

Equipement allgemeng Spezifikatioune

Gantry Struktur

Dual-fueren Marmer

Dynamic System

Akribls Magnéitesch Levitatioun Linearmotor

Computer System

Windows 10 22H2 Pro

Industriell Computer Mark

Advantech

Allgemeng Gréisst

1450mm * 1350mm * 1650mm

(Dräilfaarf Liicht Héicht ass net abegraff)

Gewiicht

Ongeféier 1200KG


◇◇  Uwendungsberäich  ◇◇

06-Digital Grafikerkennungssystem




BGA Bumping Prozess, SMT Präzisioun Schabloun, Wafer-Level Bumping Schabloun, Quarz Photomask, Mikro-electroforming Schabloun.

virdrun: 
Nächste: 

Zesummenhang Produkter

Kontakt Info

Telefon: +86-512-5792-3620  
 E-Mail: info@ptcstress.com
 Adress: No.581, Hengchangjing Road, Zhoushi Town, Kunshan City, Jiangsu Province, 215337, China

Follegt eis

Hutt Dir Froen? Kontaktéiert eis fir Hëllef.

Quick Linken

Copyright © 2026 Suzhou PTC Optical Instrument Co., Ltd. All Rechter reservéiert.   苏ICP 备 19051399 号-2