Οπτική επιθεώρηση, AOI, & Εξοπλισμός δοκιμής
Σπίτι » Προϊόντα » Εξοπλισμός Ημιαγωγών » Ψηφιακό σύστημα ανίχνευσης γραφικών

φόρτωση

Κοινοποίηση σε:
κουμπί κοινής χρήσης facebook
κουμπί κοινής χρήσης twitter
κουμπί κοινής χρήσης γραμμής
κουμπί κοινής χρήσης wechat
κουμπί κοινής χρήσης linkedin
κουμπί κοινής χρήσης pinterest
κουμπί κοινής χρήσης whatsapp
κουμπί κοινής χρήσης kakao
Κουμπί κοινής χρήσης snapchat
κουμπί κοινής χρήσης τηλεγραφήματος
κοινοποιήστε αυτό το κουμπί κοινής χρήσης

Ψηφιακό σύστημα ανίχνευσης γραφικών

Ο Εξοπλισμός Οπτικής Επιθεώρησης Ανάλυσης Εικόνας επιτρέπει την αυτόματη γρήγορη μέτρηση ελαττωμάτων και ανάλυση σύγκρισης προτύπων, βελτιώνοντας σημαντικά την απόδοση παραγωγής και μειώνοντας το κόστος εργασίας σε σύγκριση με τις παραδοσιακές μεθόδους χειροκίνητης επιθεώρησης. Διασφαλίζει ότι τα προϊόντα πληρούν τα πρότυπα υψηλής ποιότητας, αποφεύγοντας τη σπατάλη υλικών που προκαλείται από τη χρήση υλικών υποβαθμισμένης ποιότητας.
 
 
Διαθεσιμότητα:
Ποσότητα:
  • SMI-M5

  • PTC


◇◇ Χαρακτηριστικά  ◇◇


  • Ολοκληρωμένες δυνατότητες ανίχνευσης: Υποστηρίζει πολλαπλά στοιχεία ανίχνευσης, συμπεριλαμβανομένης της περιοχής οπών, των διαστάσεων, της ανίχνευσης ξένων αντικειμένων και άλλων, καλύπτοντας διαφορετικές ανάγκες των πελατών.

  • Υποστηρίζει κοινές μορφές δεδομένων της βιομηχανίας PCB: Gerber & ODB++, επιτρέποντας την εισαγωγή σχεδίων εκτός σύνδεσης για ανάλυση στοιχείων ηλεκτρονικών στοιχείων. Μπορούν να διαμορφωθούν κριτήρια επιθεώρησης για συγκεκριμένα στοιχεία .

  • Γερμανικές βιομηχανικές κάμερες υψηλής ταχύτητας, υψηλής ανάλυσης Basler: Εξοπλισμένες με πηγές φωτός υψηλής φωτεινότητας, ο εξοπλισμός επιτυγχάνει πτητική λήψη υψηλής ταχύτητας. Σε συνδυασμό με έναν μοναδικό αλγόριθμο σύγχρονης επεξεργασίας πολλαπλών νημάτων, επιτρέπει πιο αποτελεσματική ανάλυση και ανίχνευση εικόνας.

  • Κινούμενες μονάδες υψηλής ακρίβειας: Γραμμικοί κινητήρες μαγνητικής αιώρησης υψηλής ακρίβειας Singapore Akribis, ζυγαριές πλέγματος εξαιρετικά ακριβείας Renishaw του Ηνωμένου Βασιλείου και γραμμικός οδηγός υψηλής ακρίβειας Hiwin της Ταϊβάν.

  •  Ισχυρή προσαρμοστικότητα: Δυνατότητα επιθεώρησης στένσιλ με διάφορες προδιαγραφές, ενώ ένα ευέλικτο σύστημα συνταγών είναι κατάλληλο για διαφορετικά σενάρια βιομηχανικών εφαρμογών.

  • Το ανιχνεύσιμο σύστημα δεδομένων ανίχνευσης διευκολύνει την αντίστροφη ανίχνευση ελαττωμάτων διεργασιών και τον έλεγχο των προτύπων διεργασίας.

  •  Φιλική προς τον χρήστη διεπαφή: Η διαισθητική μέθοδος λειτουργίας και ο βελτιστοποιημένος σχεδιασμός αλγορίθμου λογισμικού καθιστούν αυτό το σύστημα ανίχνευσης ελαττωμάτων πιο βολικό για τους χειριστές να χρησιμοποιούν τον εξοπλισμό.



◇◇  Τεχνικές προδιαγραφές  ◇◇


Μονάδα ανίχνευσης

Σενάριο εφαρμογής

Εισερχόμενη επιθεώρηση ή επιθεώρηση μετά τον καθαρισμό του στένσιλ από χάλυβα SMT

Στοιχεία ανίχνευσης

Περιοχή τρύπας, θέση, μετατόπιση, μέγεθος, ξένο αντικείμενο, γρέζια, φραγμένη τρύπα, τρύπα που λείπει, τάση, διαστολή και συστολή

Μέτρηση τάσης:

Προγραμματιζόμενος ψηφιακός μετρητής τάσης με υψηλή ακρίβεια, εύρος μέτρησης 5-60 N/cm.

Μέγεθος πλαισίου

200*200*15~736*736*40(mm)

Μέγιστο μέγεθος περιοχής ανίχνευσης

620*620 (mm)

Ταχύτητα ανίχνευσης

0,7 S ανά FOV.

Ελάχιστη μετρήσιμη διάμετρος μονής οπής

20μm

Μέγιστη μετρήσιμη διάμετρος μονής οπής

9 χιλιοστά

Ελάχιστη μετρήσιμη απόσταση οπών

100μm

SΑκρίβεια συστήματος

Ακρίβεια μέτρησης θέσης

3,45μm (ένα pixel)

Ακρίβεια επανάληψης ανίχνευσης

Gage R&R<3%

Ακρίβεια θέσης κίνησης

Ακρίβεια τοποθέτησης:±3μm, Ακρίβεια επαναλαμβανόμενης θέσης: ±3μm

Οπτικό σύστημα

Κάμερα

Basler 12 εκατομμύρια pixel

Φακός

Διπλός τηλεκεντρικός φακός

Ακρίβεια pixel

3,45μm

Μέγεθος FOV

14,13mm*10,35mm (προαιρετικό)

Top Illuminator

Ομοαξονικό φως

Κάτω φωτιστικό

Οπίσθιος φωτισμός στροβοσκόπιου υψηλής συχνότητας

SΛειτουργίες λογισμικού

Λειτουργία δοκιμής εξοπλισμού

Δοκιμές εκτός σύνδεσης

Μέθοδος προγραμματισμού αριθμού μοντέλου

Προγραμματισμός εκτός σύνδεσης

Κύριος αλγόριθμος

Εξαγωγή διόρθωσης MARK για τον υπολογισμό της θέσης συντεταγμένων. Ο αλγόριθμος διανυσματικών εικόνων χρησιμοποιείται για τον υπολογισμό της γεωμετρικής θέσης και της απόκλισης μεγέθους μεταξύ ανοίγματος και πραγματικού Gerber

Μορφή κάμερας

RS-274X, ODB++

Διαχείριση δικαιωμάτων χρήστη

Υποστηρίζει ιεραρχικό έλεγχο πρόσβασης

MES

Υποστήριξη προσαρμοσμένης ανάπτυξης

Λειτουργία διαχείρισης γραμμικού κώδικα στένσιλ από χάλυβα

Προαιρετική, ρεζέρβα λογισμικού

Λειτουργία σύγκρισης γραφήματος

Υποστήριξη

Σύστημα διαχείρισης πληροφοριών

Σύστημα συνταγών

Ιστορική καταγραφή

Η διαδικασία δοκιμής και τα δεδομένα των αποτελεσμάτων καταγράφονται σε αρχεία και τα αποτελέσματα της δοκιμής μπορούν να προβληθούν εκτός σύνδεσης

Μέθοδος δοκιμής

Υποστηρίζει πολλαπλές λειτουργίες ανίχνευσης και διαμορφώσιμα επίπεδα δοκιμής, επιτρέποντας τον ορισμό δοκιμής συγκεκριμένης ομάδας και επιπέδου για διαφορετικά εξαρτήματα

Στατιστικά στοιχεία SPC

Ιστόγραμμα, Διάγραμμα Xbar-R, Cp&Cpk, Ημερήσια/Εβδομαδιαία/Μηνιαία αναφορά

εξοπλισμού Γενικές προδιαγραφές

Δομή γέφυρας

Μάρμαρο διπλής κίνησης

Δυναμικό σύστημα

Γραμμικός κινητήρας μαγνητικής αιώρησης Akribls

Σύστημα υπολογιστή

Windows 10 22H2 Pro

Βιομηχανική μάρκα υπολογιστών

Advantech

Συνολικό μέγεθος

1450mm*1350mm*1650mm

(Το ύψος του φωτισμού τριών χρωμάτων δεν περιλαμβάνεται)

Βάρος

Περίπου 1200 κιλά


◇◇  Περιοχή εφαρμογής  ◇◇

06-Ψηφιακό σύστημα ανίχνευσης γραφικών




BGA Bumping Process, SMT Precision Stencil, Wafer-Level Bumping Stencil, Quartz Photomask, Micro-electroforming stencil.

Προηγούμενος: 
Επόμενος: 

Στοιχεία Επικοινωνίας

Τηλέφωνο: +86-512-5792-3620  
 Email: info@ptcstress.com
 Διεύθυνση: No.581, Hengchangjing Road, Zhoushi Town, Kunshan City, Jiangsu Province, 215337, China

Ακολουθήστε μας

Έχετε ερωτήσεις; Επικοινωνήστε μαζί μας για βοήθεια.

Γρήγοροι Σύνδεσμοι

Πνευματικά δικαιώματα © 2026 Suzhou PTC Optical Instrument Co., Ltd. Με την επιφύλαξη παντός δικαιώματος.   苏ICP备19051399号-2