半導体装置の概要
2008 年に設立された PTC は、工場の品質管理能力を高めるために設計された最先端のインテリジェント機器とカスタマイズされた技術ソリューションを提供しています。
PTC 半導体装置カテゴリは、世界の半導体およびエレクトロニクス製造業界の厳しい基準を満たすように細心の注意を払って設計された、欠陥検査ソリューションの包括的なポートフォリオを提供します。
半導体装置の構成
- オペレーターの介入を最小限に抑えた、自動化された高スループットの材料移送
- ミクロン単位の欠陥を超高感度で検出し、欠陥ゼロの出力を保証します
- 実際の欠陥と迷惑なパターンを瞬時に区別するインテリジェントなアルゴリズム
- リアルタイムの統計的プロセス制御と実用的な歩留まりに関する洞察
技術力
ホットソリューション秒
外観欠陥検査装置
Al₂O₃、AlN、Si₃N₄ などのセラミック基板の表面欠陥検査用に設計されたこの半導体 AOI システムは、汚染、斑点、欠け、突起、微小亀裂、穴、表面マークなどを含む広範囲の欠陥を識別します。
走査型音響トモグラフィー
コア音響顕微鏡とインテリジェントな検査アルゴリズムを備えた複数のプローブが、水に浸された製品を並行してスキャンします。製品の表面と内部の多層構造を同時に鮮明に表示できるため、ボイドやマイクロクラックなどの内部欠陥を検出できない目視検査の限界を補うことができます。
高電圧試験装置
セラミックおよびメタライズ基板の AC/DC 高電圧試験用に設計されたこの自動化システムは、耐電圧性能をチェックし、気泡、穴、またはその他の欠陥を含む不良サンプルを効果的に排除し、電気試験を通じて隠れた微小亀裂を迅速に特定します。
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よくある質問
ニーズに合った適切な半導体装置を選択するにはどうすればよいですか?
精度やサイクルタイムなど、お客様の詳細な要件に合わせた最適なソリューションを特定するために、専門家によるコンサルティングを提供します。一方、私たちの推奨事項では、予算管理を考慮しています。
半導体装置を既存の生産ラインに統合できますか?
あなたの半導体装置は大量の検査と生産に対応できますか?
