Định hình nhiệt chính xác của thấu kính thủy tinh quang học là một quá trình tiên tiến. Nó có ưu điểm là đúc một lần, hiệu quả cao và chi phí thấp, thích hợp cho sản xuất thấu kính thủy tinh quy mô lớn và thân thiện với môi trường. Nhưng công nghệ ép nóng là quá trình đúc kính quang học ở nhiệt độ cao. Do nhiệt độ không đồng đều trong quá trình làm mát và sự thay đổi trạng thái phức tạp của thủy tinh trong giai đoạn chuyển tiếp, ứng suất dư cuối cùng bị đóng băng trong thấu kính thủy tinh. Sự tồn tại của ứng suất dư sẽ gây ra hiện tượng lưỡng chiết và lệch chiết suất của thấu kính thủy tinh, do đó ảnh hưởng đến hiệu suất quang học của thấu kính. Để nghiên cứu sự phân bố ứng suất dư trong thấu kính thủy tinh, chúng tôi đã chế tạo một kính phân cực hình tròn và sử dụng hai cách khác nhau để đo độ lưỡng chiết của thủy tinh được xử lý nhiệt.
Cách 1: đo trực tiếp bằng phương pháp quang đàn hồi
chiết suất của thấu kính thử: 1,76.
Thông qua biểu đồ sắc độ trễ quang ứng suất (phần màu đỏ có giá trị lớn nhất và phần màu xanh có giá trị nhỏ nhất), chúng ta dường như rút ra được kết luận sau: vùng trung tâm có độ lưỡng chiết ứng suất nhỏ hơn và vùng rìa có độ lưỡng chiết ứng suất lớn hơn).
Phương pháp 2: Đo bằng phương pháp quang đàn hồi bằng chất lỏng ngâm
chỉ số khúc xạ của ống kính thử nghiệm: 1,76
chiết suất của chất lỏng ngâm: 1,64.
Khi thấu kính thử nghiệm được nhúng hoàn toàn vào chất lỏng ngâm, chúng tôi thu được biểu đồ độ trễ quang ứng suất sau. Chúng tôi nhận thấy rằng sự phân bố ứng suất rất đồng đều trong toàn bộ thấu kính thủy tinh, không có vùng lưỡng chiết ứng suất cao rõ ràng.
Khi chúng ta khám phá sâu hơn kết luận nào trong hai kết luận trên gần với trạng thái thực hơn, chúng ta cần xem xét một yếu tố. Thấu kính thử nghiệm là thấu kính lồi, dày hơn ở trung tâm và mỏng hơn ở các cạnh. Để loại bỏ ảnh hưởng của hình dạng đặc biệt này đến khả năng lưỡng chiết ứng suất, nên chọn chất lỏng ngâm có chiết suất gần với thấu kính thử để đo.
