רכיבים דו-שבירה הם סוג מיוחד של רכיבים אופטיים המפגינים שבירה כפולה.
כלומר, האור השבור מתפשט בשני כיוונים: אור רגיל (o light) ואור יוצא דופן (e light). פיגור פאזה מתייחס להבדל הפאזות בין o light ל-e light כאשר האור עובר דרך רכיב דו-שבירה. גודל פיגור הפאזה קשור לגורמים כמו תכונות החומר, הגיאומטריה של הרכיב ואורך הגל של האור הנכנס. מדידה מדויקת של עיכוב השלב של רכיבים דו-שבירה היא בעלת משמעות רבה עבור התכנון והערכת הביצועים של מערכות אופטיות.
לדוגמה, במערכות תקשורת סיבים אופטיים, ניתן להשתמש במדידת פיגור הפאזה למדידת מאפייני הפיזור של סיבים אופטיים, ובכך לייעל את רוחב הפס ומרחק השידור של שידור סיבים אופטיים. בציוד הדמיה כגון מיקרוסקופים אופטיים וטומוגרפיות קוהרנטיות אופטיות, ניתן להשתמש במדידת השהיית פאזה כדי לשפר את הרזולוציה ולמדוד במדויק את הטופוגרפיה של פני השטח של דגימות.
השיטה הספציפית לאיתור דיוק גבוה של עיכוב שלב בתוך רכיבים דו-שבירה מאמצת את עקרון הפוטואלסטיות. כאשר אור עובר דרך מקטב, הוא הופך לאור מקוטב מעגלי. כאשר מניחים דגימה עם עיכוב שלב, יש פיגור אופטי בין הציר האיטי לציר המהיר. כך האור היוצא הופך לאור מקוטב אליפטי. על ידי סיבוב הנתח, ניתן לזהות במדויק את זווית הסיבוב של האור המקוטב המושפע מהנוכחות של פיגור פאזה. מתחת לאוטומטי פולריסקופ הוא מכשיר מדידה למדידה מדויקת של פיגור פאזה.
